XRF贵金属分析仪

简要描述:XRF贵金属分析仪由高能X射线激发原子电子层,使得原子核外电子发生跃迁,造成二次X射线能量释放,因不同的元素释放的能量具有不同特性,探测系统测量这些能量和数量,从而计算元素含量。

  • 产品型号:PM-350
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-10-21
  • 访  问  量: 228

详细介绍

XRF贵金属分析仪原理

由高能X射线激发原子电子层,使得原子核外电子发生跃迁,造成二次X射线能量释放,因不同的元素释放的能量具有不同特性,探测系统测量这些能量和数量,从而计算元素含量。

主要组成部件

高压-光管-探测器与前放-主放-DPP-控制模块-通信模块-显示系统等


X射线应该分析仪结构方框图 


XRF贵金属分析仪优势和特点

。超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

。易于使用,一键操作,即可获得克拉等级及组成成份的分析结果

。有助于识别镀金样件的创新型功能

。机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室

。按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件的化学成份和克拉等级的精确结果

。使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

。用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户对测试信心

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性能及配置:

分析范围1ppm to 100 %

精度RSD≤0.05% Au≥90%

测试样品的物理状态固体、粉末、液体

感兴趣元素贵金属Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.

基本金属Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.

仪器环境要求

环境温度15° C~30° C

相对湿度35%一70%


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